Producenten van meetinstrumenten kalibreren meters in hun eigen kalibratie- of testfaciliteit. Als onafhankelijk en internationaal erkend meetinstituut kan VSL de kwaliteit van deze faciliteit toetsen en de ‘Calibration and Measurement Capability’ (CMC) bepalen.
Met dit certificaat weet je dat een faciliteit betrouwbaar is.
Onze diensten
Met een CMC-certificering mikken we op de best haalbare meetonzekerheid van een (bijna) ideaal meetinstrument onder normale condities. Een certificering zorgt voor vertrouwen bij afnemers en andere belanghebbenden van de kalibratie- of testfaciliteit. In het onderzoek bekijken we de technische prestaties van de faciliteit en controleren alle vitale componenten:
De CMC wordt berekend volgens de JCGM 100:2008 “Evaluation of measurement data – Guide to the expression of uncertainty in measurement”.
Onze experts staan voor je klaar.
Michael van Schaik
Senior Account Manager
Na het onderzoek ontvangt het bedrijf voor hun kalibratie- of testfaciliteit een VSL CMC-certificaat met daarin de meetonzekerheid en een handleiding voor herleidbaarheid. Hiermee kunnen ze aantonen dat de meetonzekerheid is bewezen door een onafhankelijk metrologisch instituut. Het certificaat is twee jaar geldig, mits de juiste procedures uit de handleiding gevolgd worden. Ook mogen bedrijven de resultaten van kalibraties met de gecertificeerde faciliteit aanduiden met het logo van VSL in combinatie met de tekst ‘CMC certified’.
Het certificaat dat VSL uitgeeft, toont alleen aan dat de faciliteit binnen de in het certificaat genoemde CMC-waarden kan functioneren. VSL is niet verantwoordelijk voor tests of kalibraties van de faciliteit of voor de resultaten die hieruit volgen.
Elke twee jaar voeren we een technische audit uit om na te gaan of de kalibratie- of testfaciliteit nog steeds binnen de gespecificeerde CMC-waarden werkt. Onderdeel van de audit is dat er iemand aanwezig is die live meekijkt met de werkzaamheden rond de faciliteit.
Bekijk hier de bedrijven die een CMC-certificering ontvangen hebben van VSL.
