Traceerbare metrologie van zachte röntgenstraling naar IR optische constanten en nanofilms voor geavanceerde fabricage (20IND04 ATMOC)

De optische en halfgeleiderindustrieën gebruiken innovatieve materialen en complexe nanostructuren in hun producten waarvan de optische eigenschappen moeilijk te meten en vaak niet nauwkeurig bekend zijn. Dit project ontwikkelt geavanceerde wiskundige methoden om deze materialen traceerbaar te karakteriseren voor golflengtebereiken van zachte röntgenstraling tot IR.

Traceerbare industriële 3D-ruwheid en maatvoering met behulp van optische 3D-microscopie en optische afstandssensoren (20IND07 TracOptic)

Om te kunnen blijven concurreren, streven Europese fabrikanten ernaar om hun productieprocessen voortdurend te verbeteren. De oppervlaktetopografie van een onderdeel kan een diepgaand effect hebben op de functie van het onderdeel. Dit geldt voor een breed scala van industrieën (zoals precisietechniek, automotive en medisch).