Wat betekent digitale transformatie voor metrologie?

Digitale transformatie is overal in de maatschappij. Ook metrologie wordt op allerlei manieren beïnvloed door de digitale transformatie. In zijn paper ‘The digital transformation and novel calibration approaches’ gaat Gertjan Kok, Scientist Data Science & Modelling bij VSL Dutch Metrology Institute, in op hoe nieuwe digitale technologieën effect hebben op het werk en de rol van Nationale Metrologische Instituten als VSL.

Grenzen verleggen van nanodimensionale metrologie door licht (20FUN02 POLight)

Dit project pakt dit probleem aan door nieuwe methoden te ontwikkelen om de metrologiekloof te overbruggen en op zijn beurt KET-innovatie te bevorderen. Meer specifiek zal dit project de grenzen van optische meetmethoden verleggen door een nieuwe generatie optische metrologiesystemen te realiseren, met ongekende prestaties op het gebied van ruimtelijke resolutie, traceerbaarheid, betrouwbaarheid en robuustheid.

Traceerbare metrologie van zachte röntgenstraling naar IR optische constanten en nanofilms voor geavanceerde fabricage (20IND04 ATMOC)

De optische en halfgeleiderindustrieën gebruiken innovatieve materialen en complexe nanostructuren in hun producten waarvan de optische eigenschappen moeilijk te meten en vaak niet nauwkeurig bekend zijn. Dit project ontwikkelt geavanceerde wiskundige methoden om deze materialen traceerbaar te karakteriseren voor golflengtebereiken van zachte röntgenstraling tot IR.